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關(guān)注：1
2013-05-23 12:21
求翻譯：Testing cross-talk induced delay faults in digital circuit based on transient current analysis是什么意思？ 待解決
 懸賞分：1
- 離問題結(jié)束還有
Testing cross-talk induced delay faults in digital circuit based on transient current analysis
問題補(bǔ)充： |
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2013-05-23 12:21:38
測(cè)試串?dāng)_在數(shù)字電路引起的延遲故障暫態(tài)電流分析的基礎(chǔ)上
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2013-05-23 12:23:18
測(cè)試串?dāng)_故障而導(dǎo)致的延遲在數(shù)字電路分析根據(jù)瞬時(shí)電流
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2013-05-23 12:24:58
測(cè)試的干擾導(dǎo)致的延遲缺點(diǎn)在根據(jù)瞬變電流分析的數(shù)字電路
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2013-05-23 12:26:38
基于暫態(tài)電流分析的數(shù)字電路測(cè)試相聲誘導(dǎo)的延遲故障
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2013-05-23 12:28:18
測(cè)試被促使的串音在根據(jù)短暫當(dāng)前分析的數(shù)字電路中的耽擱時(shí)間的錯(cuò)誤
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