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關(guān)注：1
2013-05-23 12:21
求翻譯：This challenge is to link abnormal electrical behavior of the IC to the smallest area that includes the defect inside the device.是什么意思？ 待解決
 懸賞分：1
- 離問題結(jié)束還有
This challenge is to link abnormal electrical behavior of the IC to the smallest area that includes the defect inside the device.
問題補充： |
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2013-05-23 12:21:38
這一挑戰(zhàn)是將IC的電氣行為異常，包括設(shè)備內(nèi)部缺陷的最小面積。
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2013-05-23 12:23:18
這一挑戰(zhàn)是,鏈接的行為不正常的電氣ic在最小的范圍內(nèi)的缺陷,包括在設(shè)備內(nèi)部。
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2013-05-23 12:24:58
這個挑戰(zhàn)是與包括瑕疵在設(shè)備里面的小范圍連接集成電路的反常電子行為。
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2013-05-23 12:26:38
這種挑戰(zhàn)是要鏈接到最小的地區(qū)，其中包括設(shè)備內(nèi)部缺陷的電氣行為異常的 IC。
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2013-05-23 12:28:18
這項挑戰(zhàn)是連接到包括在設(shè)備中的缺陷的最小地區(qū)的 IC 的異常電行為。
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