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2013-05-23 12:21
求翻譯：Films deposited on silicon substrates have been character-ized very comprehensively by a variety of methods with respect to their morphology and structure, composition, crystallinity, and bonding environment. The results of this study have been discussed in [17,18]. The samples of the present investiga-tion were analys是什么意思？ 待解決
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Films deposited on silicon substrates have been character-ized very comprehensively by a variety of methods with respect to their morphology and structure, composition, crystallinity, and bonding environment. The results of this study have been discussed in [17,18]. The samples of the present investiga-tion were analys
問題補充： |
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2013-05-23 12:21:38
薄膜硅襯底上沉積已被性格化的多種方法非常全面尊重他們的形態和結構，組成，結晶度和粘合環境。這項研究的結果進行了討論，在[17,18]。目前investiga的樣品進行了分析，通過掃描電子顯微鏡（SEM，形態和結構），X射線衍射（XRD，晶體性），拉曼光譜（粘結環境），X射線光電子能譜（XPS組成和粘接環境）。選定樣本由壓痕，nanotribo測試，和劃痕試驗[13]。
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2013-05-23 12:23:18
已沉積在硅襯底上字符的十分全面的組織的各種方法對其形態和結構、組成、結晶度、和粘接環境。 這項研究的結果進行了討論,[17,18]。
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2013-05-23 12:24:58
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2013-05-23 12:26:38
硅襯底上沉積薄膜一直字符化非常全面的各種形態和結構、 組成、 結晶度、 和粘結環境的方法。[17,18] 中討論了這項研究的結果。目前的調查情況研究的樣本分析都是通過掃描電子顯微鏡 （SEM、 形態和結構）、 x 射線衍射 (晶狀體蛋白的碳黑 XRD)、 拉曼光譜 (粘接環境） 和 x 射線光電子能譜 （XPS、 組成和粘結環境）。抽取的樣
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2013-05-23 12:28:18
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