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關(guān)注：1
2013-05-23 12:21
求翻譯：For conventional shear test, because of low speed limitations, the dominant failure mode tends to be solder itself, and the brittle fracture at the interface is quite scarce. This means the traditional shear test is difficult to compare the effects of different pad surface finishes, solder alloys, microstructures, and 是什么意思？ 待解決
 懸賞分：1
- 離問題結(jié)束還有
For conventional shear test, because of low speed limitations, the dominant failure mode tends to be solder itself, and the brittle fracture at the interface is quite scarce. This means the traditional shear test is difficult to compare the effects of different pad surface finishes, solder alloys, microstructures, and
問題補(bǔ)充： |
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2013-05-23 12:21:38
對于傳統(tǒng)的剪切試驗(yàn)，因?yàn)榈娃D(zhuǎn)速的限制，主要的故障模式往往是焊料本身，并在界面的脆性斷裂是相當(dāng)匱乏。這意味著傳統(tǒng)的剪切試驗(yàn)是難以比較不同焊盤表面處理，焊料合金的微觀結(jié)構(gòu)，以及法團(tuán)校董會的影響，界面附近
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2013-05-23 12:23:18
為常規(guī)剪試驗(yàn),因?yàn)榈退俣鹊南拗?這主要故障模式往往是焊錫本身,和脆弱骨折的界面上是相當(dāng)少。 這意味著傳統(tǒng)剪試驗(yàn)的影響是很難比較不同墊表面裝飾,焊錫合金、微結(jié)構(gòu),和法團(tuán)校董會的附近接口
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2013-05-23 12:24:58
為常規(guī)剪測試，由于低速局限，統(tǒng)治失敗形式傾向于是焊劑，并且脆性斷裂在接口是相當(dāng)缺乏的。 這意味著傳統(tǒng)剪測試是難在接口附近比較不同的墊表面結(jié)束、焊劑合金、微結(jié)構(gòu)和IMCs的作用
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2013-05-23 12:26:38
常規(guī)剪切試驗(yàn)，由于的低速度限制，占主導(dǎo)地位的失效模式往往是焊錫本身，和脆性斷裂的接口是相當(dāng)少。這意味著傳統(tǒng)剪切試驗(yàn)很難比較不同墊表面光潔度的影響，界面附近焊料合金、 微觀結(jié)構(gòu)和內(nèi)部管理咨詢處
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2013-05-23 12:28:18
常規(guī)剪切試驗(yàn)，由于的低速度限制，占主導(dǎo)地位的失效模式往往是焊錫本身，和脆性斷裂的接口是相當(dāng)少。這意味著傳統(tǒng)剪切試驗(yàn)很難比較不同墊表面光潔度的影響，界面附近焊料合金、 微觀結(jié)構(gòu)和內(nèi)部管理咨詢處
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