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關(guān)注：1
2013-05-23 12:21
求翻譯：High intensity light inspection is an efficient inspection method that provides very accurate analysis of bulk material for defects that are significant to the LED wafer manufacturing and GaN growth MOVCD processes. These include bubbles, inclusions and gas in sapphire material. Bubble defects that are visible to 1X ma是什么意思？ 待解決
 懸賞分：1
- 離問(wèn)題結(jié)束還有
High intensity light inspection is an efficient inspection method that provides very accurate analysis of bulk material for defects that are significant to the LED wafer manufacturing and GaN growth MOVCD processes. These include bubbles, inclusions and gas in sapphire material. Bubble defects that are visible to 1X ma
問(wèn)題補(bǔ)充： |
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2013-05-23 12:21:38
高強(qiáng)度光檢查是一種有效的檢查方法，提供了非常準(zhǔn)確的散裝物料顯著LED晶圓制造和GaN生長(zhǎng)MOVCD過(guò)程的缺陷分析。這些措施包括在藍(lán)寶石材料的氣泡，夾雜物和氣體。 1X放大倍率可見(jiàn)的氣泡缺陷，可以降低外延準(zhǔn)備晶圓產(chǎn)量。對(duì)這些缺陷的正確檢查，確保高收益的最佳材料使用。
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2013-05-23 12:23:18
強(qiáng)度高輕檢查是一個(gè)有效率的檢驗(yàn)方法,提供非常準(zhǔn)確的分析散裝物料的缺陷,是重要的,導(dǎo)致晶圓制造和干movcd增長(zhǎng)進(jìn)程。 這些包括泡沫,列入和氣體的藍(lán)寶石物料。 泡沫缺陷,也可以看到放大倍率可低至1X擴(kuò)大免疫方案準(zhǔn)備晶片產(chǎn)量。 為確保適當(dāng)?shù)臋z查這些弊端的最佳材料使用高產(chǎn)量。
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2013-05-23 12:24:58
高強(qiáng)度輕的檢查是為瑕疵提供非常對(duì)粒狀材料的準(zhǔn)確分析是重大的到LED薄酥餅制造業(yè)和GaN成長(zhǎng)MOVCD過(guò)程的一個(gè)高效率的檢查方法。 這些在青玉材料包括泡影、包括和氣體。 是可看見(jiàn)的到1X放大的泡影瑕疵可能降低Epi準(zhǔn)備好薄酥餅出產(chǎn)量。 適當(dāng)?shù)臋z查為這些瑕疵保證優(yōu)選的原料使用率為高出產(chǎn)量。
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2013-05-23 12:26:38
高強(qiáng)度光檢是有效檢驗(yàn)方法，它提供了非常準(zhǔn)確的分析散裝物料的缺陷，認(rèn)為重要的 LED 晶片制造和甘 MOVCD 生長(zhǎng)過(guò)程。這些寶石材料包括泡沫、 夾雜物和氣。可見(jiàn)放大 1 倍的氣泡缺陷可以降低的 Epi 準(zhǔn)備晶片的收益率。這些缺陷檢查確保最佳材料使用率高的收益率。
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2013-05-23 12:28:18
高強(qiáng)度光檢是有效檢驗(yàn)方法，它提供了非常準(zhǔn)確的分析散裝物料的缺陷，認(rèn)為重要的 LED 晶片制造和甘 MOVCD 生長(zhǎng)過(guò)程。這些寶石材料包括泡沫、 夾雜物和氣。可見(jiàn)放大 1 倍的氣泡缺陷可以降低的 Epi 準(zhǔn)備晶片的收益率。這些缺陷檢查確保最佳材料使用率高的收益率。
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